蛍光X線分析装置・素材分析器・材料試験器のネット店舗

創業1958年のヘルムート・フィッシャー社が業界に先駆けて開発してきたエネルギー分散型の蛍光X線分析装置です。X線管より発生したX線を試料に照射して、2次的に発生する各元素特有の波長をもった蛍光X線を高感度の計測管でスペクトル分析します。スペクトル種類により各元素が特定できるうえに、スペクトルの強度により各元素の質量や膜厚や濃度に換算できます。この装置は高度なソフトウエア処理により、高感度の定性分析と定量分析が非破壊でできる高速分析装置となっています。 

最大24種類の構成元素を含有する合金を素材分析したり、24層までの多層金属膜の測定ができます。また、より点光源に近いマイクロフォーカスX線チューブ超微小コリメーター(0.02x0.05mm)・SDD高感度X線ディテクターの 組み合わせにより100μm以下の構造体の高感度な蛍光X線素材分析が可能。自動フィルター・アパチャー交換、高精度電動XYZステージでオートフォーカ ス、高性能制御ソフト・アプリケーションソフト付。各種卓上試験機や真空中での計測用から量産ライン組込み用素材分析システムまであります。

 
square black 特 長      
いろいろな素材分析   arrow   幅広い素材分析・フェライト含有量・Al酸化膜封孔度・コート膜質検査
高精度で幅広い測定レンジ   arrow   軽量元素・微量元素の分析 ・ Na~U までの24元素同時測定
様々な測定スタイル   arrow   ハンディ・卓上型・量産用インラインタイプ・真空チャンバー使用
強力なソフトウエア   arrow   マルチ機能・測定精度をサポート・カラータッチパネル・統計処理・PCへのデータ転送
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 用 途                
top1 DE gold bracelet top2 top3 DE XRAY gem big top4 DE XDV-SDD dragon plastics big top5
貴金属鑑定 真空中での宝石分析 宝石鑑定 玩具の有害金属測定 ウエハの分析
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top6 DE Poroscope HV40 tank big top7 DE Sigmascope planes big top8 DE Feritscope 02 cylinder big top9 DE XDL meas cell big top10 Anotest20YMP30-S Mess 250
タンクなどコート膜テスト 航空機Al金属疲労度試験 溶接部フェライト含有量測定 液体・粉体の素材分析 アルマイト耐候性試験

 

 
 
   
■ 主な機種
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product1 product2 product3 product4 SMP 350 small
卓上マルチ素材分析計 MMS
フェライト含有量測定など
FERITSCOPE ® FMP30
フェライト含有量測定計
ANOTEST® YMP30-S
アルマイト耐候性試験
POROSCOPE® HV40
コート層欠陥テスト
SIGMASCOPE® SMP350
電導率測定
product6 product7 product8 product9 product10
蛍光X線分析装置(固定ステージ)
XAN, XULM
蛍光X線分析装置(電動XYZ軸)
XDL, XDLM, XDAL, XDV
真空・He中で素材分析
XUV773
ストリップ物インライン用
Conti 4000
ソーラセルライン用
Conti 5000
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新製品  XAN250 / 220 蛍光X線分析装置  ☆☆☆ 測定精度0.05%以下
マイクロ・フォーカスX線管と高感度X線ディテクターSDDを標準装備した、X線源下側固定タイプでのプレミアムモデルXAN蛍光X線素材分析装置。電動式フィルター4種・アパチャー6種を備えたXAN250はAl(13)-U(97)の元素を24種類同時に短時間で解析でき、またナノ領域の超薄膜の測定ができる。高性能サポートソフトにより、キャリブレーションサンプルなしでも、業界最高レベルの再現性精度(0.05%以下、Au)と長期安定性が得られます。破壊検査である灰吹法に匹敵する精度が得られます。 
DE XAN250-woman mid179-126  
 


お知らせ
(2016.04): 
「Windows10」へのアップグレードに関するご注意

 

 

 
 


 蛍光X線式分析装置・材料試験器一覧

材料試験器の詳細はココから
モデル名 タイプ 測定方式
目的 特記事項
FISCHERSCOPE MMS PC2 小型卓上型(CE+LAN付) 磁気誘導法 プローブヘッド各種選択 フェライト含有量測定など 8chマルチ式
FERITESCOPE FMP30 ハンディタイプ 磁気誘導法 プローブヘッド各種選択 フェライト含有量測定 専用器
ANOTEST YMP30-S ハンディタイプ アドミッタンス測定 プローブヘッド各種選択 アルマイト耐候性試験 専用器
POROSCOPE HV40 ハンディタイプ 低エネルギー
高電圧放電テスト
放電ヘッド形状多種類あり コート膜封孔度試験 専用器
SIGMASCOPE SMP350 ハンディタイプ 渦電流位相式 プローブヘッド各種選択 非磁性金属の導電率・疲労度 非接触測定

蛍光X線式素材分析装置の各機器詳細はココから  
モデル名 タイプ X 線源位置 (Type) 検出器
アパチャー寸法
(測定スポットmm)
目的 特記事項
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 120 固定サンプル台
クローズドチャンバー
   (STD) PIN Φ0.3mm
(Φ1.0mm )
素材分析(膜厚) Filter 1, アパチャ 1
貴金属自動解析ソフト
測定精度:0.1%(Au)
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 固定サンプル台

クローズドチャンバー

  下 (MF) SDD Φ1.0mm 素材分析(膜厚) Filter 1, アパチャ 1
測定精度:0.05%(Au)
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250 固定サンプル台

クローズドチャンバー

  下 (MF) SDD Φ0.2 - 2.0mm 素材分析(膜厚) Filter 6, アパチャ 4
測定精度:0.05%(Au)
FISCHERSCOPE X-RAY XUL 固定サンプル台
大型フード
大型基板サンプル可
  下 (STD)
PC
Φ0.3mm
(Φ1.0mm)
膜厚(素材分析) Filter 1,  アパチャ 1
Cスロット
FISCHERSCOPE X-RAY XULM 固定サンプル台
大型フード
大型基板サンプル可
  下 (MF)
PC
0.05 - Φ0.3
(100μm Min)
膜厚(素材分析) Filter 3, アパチャ4
Cスロット
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 電動XYZ
大型基板サンプル可
  上 (STD)

PC

Φ0.3mm
(Φ1.0mm)
膜厚(素材分析) Filter 1, アパチャ1
Cスロット
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 電動XYZ
大型基板サンプル可
  上 (MF) PC 0.05 - Φ0.3mm
(100μm Min)
膜厚(素材分析) Filter 3, アパチャ 4
Cスロット
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 電動XYZ
大型基板サンプル可
  上 (MF) PIN Φ0.1 - 0.6mm 膜厚・素材分析 Filter 3, アパチャ4
Cスロット
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ 高精度電動XYZ台
大型基板サンプル可
  上 (MF) SDD 0.02x0.05mm
(約20-40μm FWHM)
微小部の素材分析 Filters 4
Polycapillaries 1
Cスロット
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 高精度電動XYZ台

クローズドチャンバー

  上 (MF) SDD Φ0.1 - 3.0mm 素材分析・薄い膜厚 Filter 6, アパチャ 4
FISCHERSCOPE X-RAY XUV 高精度電動XYZ台
真空チャンバー付
  上 (MF) SDD Φ0.1 - 3.0mm Na ~ U 間の
軽量元素の分析・薄膜測定
Filter 6, アパチャ 4
FISCHERSCOPE X-RAY 4000 電動XYZ
ライン組み込み型
  上 (MF,STD) PC,PIN
or SDD
生産目的別に設定 ストリップ被膜厚・材質 量産用連続測定
FISCHERSCOPE X-RAY 5000 電動XYZ
ライン組み込み型
  上 (MF,STD) PC,PIN
or SDD
生産目的別に設定 ソーラーセルで膜厚・材質 量産用連続測定
 STD: 標準チューブ
 MF: マイクロフォーカス
(注1、2) (注3)

(注1)
SDD  ( シリコン・ドリフト・ディテクター Silicon Drift Detector ):

未知の軽元素や微量物質の検出ができる高分解能・高感度タイプ、
測定元素範囲:Na(11)~U(92)真空中、 AI(13)~U(92)大気中
PIN (シリコンPINダイオードディテクターSilicon PIN Detector ): 組成が未知のサンプル解析に向く通常感度の汎用タイプ、測定範囲 Cl (17)~U(92)                                                                
PC  (比例計数管 Proportional Counter Tube ): 組成が解っているサンプル向けの高カウントな汎用タイプ、測定元素 Ca(20)~U(92)


(注2)上記3種類のX線検出器は、選択可能な器種については出荷時に1種類選択できます。複数の検出器を同時に装備することはできません。
(注3)アパチャー(コリメータ)はX線源とサンプルの間に設置されX線の照射面積を絞る機能を持ちます。 より点光源に近いマイクロフォーカスタイプのX線管(MF)と小径コリメーターにより小さな測定スポットが可能になります。
(注4)仕様詳細は性能改善などのため予告なく変更される場合がありますので、ご購入の際はメーカーや代理店で事前にご確認ください。